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太阳能电池片数片机
品介绍:太阳能电池片数片机，可对太阳能硅片及电池片进行准确计数分析。是一款简洁、高效,高品质的数片机。同时可配合barcode系统进行产品管理，避免数量不准确
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2020-11-16 |
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碳化硅籽晶仔晶晶种
SiC的物理和电学属性使其成为短波长光电、高温、耐辐射、高功率/高频率电子器件的首选半导体材料。然而生长优质的SiC单晶非常困难，其中第一要素就取决于SiC晶种
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2020-11-16 |
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碳化硅涂层石墨制品承载盘，预热环，筛盘，顶针
我公司拥有多名日本专家、博士工程师及先进经营管理团队，拥有专业从事碳化硅涂层以及对石墨产品进行高温纯化除杂技术。公司产品及技术广泛应用于半导体行业，LE
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2020-11-16 |
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无接触体电阻率型号测试仪
产品介绍HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流（Eddy Current）测试技术，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、无损伤的体电阻率测试。无接触式
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2020-09-10 |
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多角度激光椭偏仪
多角度激光椭偏仪(PH-LE型)专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量，能够测量薄膜厚度及其光学常数，使用632.8nm波长氦氖激光器，具有极高的精度和准确度。多
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2020-09-10 |
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无接触单点少子寿命测试仪
HS-MWR-SIM无接触少子寿命测试仪是一款功能强大的无接触少子寿命测试仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤单点少子寿命测试，其通过微波
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2020-09-10 |
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金属四探针电阻率方阻测试仪
金属四探针电阻率方阻测试仪- HS-MPRT-4用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻率，以及扩散层、外延层、ITO导电薄膜、导电橡胶方块电阻的测量仪
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2020-09-10 |
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无接触少子寿命扫描仪
HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪，能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、无损伤、高分辨率的多功能扫描
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2020-09-10 |
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硅材料碳氧测试仪HS-OCT-2000
产品特点：1）适合于硅材料的氧、碳含量的测定；2）可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量；3）具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出
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2020-09-10 |
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原生多晶电阻率测试仪
HS‐POSRT原生多晶电阻率测试仪是一款高端电阻率测试仪器，具有电阻率大量程及超大量程测量的特点，实现了电阻率从0.0001欧姆.厘米到几万欧姆.厘米（可扩展）的
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2020-09-10 |
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红外探伤测试仪
NIR-01-3D型红外探伤测试仪是采用欧洲CNC工程铝合金材料，其表面都采用了高强度漆面和电氧化工艺保护，系统外框采用高质量工业设计，所有的部件的设计都达到了长
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2020-09-10 |
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蓝宝石偏光应力仪
PKS-250M偏光应力仪可对透明及弱色材料的双折射率进行检测，并通过Senarmont补偿法准确计算出光程误差不超过10nm的双折射率的值。并通过偏振光对双折射率的分布
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2020-09-10 |
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蓝宝石定向仪
HS-JF-Z2蓝宝石定向仪，是我公司基于市场目前缺乏对晶体生长切割后，需要对晶圆进行晶向指数分析，晶体长势分析，晶体缺陷分析等一系列有益于晶体更完好的呈现，
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2020-09-10 |
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硅料综合测试仪
硅料综合测试仪HS-PSRT本仪器是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选
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2020-09-10 |
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